Radioelektronikos terminų žodynas. – Vilnius : BĮ UAB „Litimo“. Kazimieras Gaivenis, Gytis Juška, Vidas Kalesinskas. 2000.
Testscheibe für Stichprobenprüfung — atrankiojo tikrinimo plokštelė statusas T sritis radioelektronika atitikmenys: angl. sample wafer vok. Testscheibe für Stichprobenprüfung, f rus. пластина для выборочного контроля, f; тестовая пластина для выборочного контроля, f pranc. tranche… … Radioelektronikos terminų žodynas
sample wafer — atrankiojo tikrinimo plokštelė statusas T sritis radioelektronika atitikmenys: angl. sample wafer vok. Testscheibe für Stichprobenprüfung, f rus. пластина для выборочного контроля, f; тестовая пластина для выборочного контроля, f pranc. tranche… … Radioelektronikos terminų žodynas
tranche pour inspection sélective — atrankiojo tikrinimo plokštelė statusas T sritis radioelektronika atitikmenys: angl. sample wafer vok. Testscheibe für Stichprobenprüfung, f rus. пластина для выборочного контроля, f; тестовая пластина для выборочного контроля, f pranc. tranche… … Radioelektronikos terminų žodynas
пластина для выборочного контроля — atrankiojo tikrinimo plokštelė statusas T sritis radioelektronika atitikmenys: angl. sample wafer vok. Testscheibe für Stichprobenprüfung, f rus. пластина для выборочного контроля, f; тестовая пластина для выборочного контроля, f pranc. tranche… … Radioelektronikos terminų žodynas
тестовая пластина для выборочного контроля — atrankiojo tikrinimo plokštelė statusas T sritis radioelektronika atitikmenys: angl. sample wafer vok. Testscheibe für Stichprobenprüfung, f rus. пластина для выборочного контроля, f; тестовая пластина для выборочного контроля, f pranc. tranche… … Radioelektronikos terminų žodynas
